支柱绝缘子超声波JYZ-BXI校准试块 JYZ-2爬波探头JYZ-1 电力瓷套、瓷支柱绝缘子参考试块 对比试块JYZ-G 爬波探头JYZ-3
序号 | 飞泰品牌 探头分类 | 探头晶片尺寸mm ×mm | 探头弧面对应直径(mm) | 适用工件外径 | 频率 | 适合间距(mm) | 单价(元) |
1 | JYZ-1 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ100 | <Φ100 | 2.5P | >15 | 致电 |
2 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ120 | >Φ100 | 2.5P | >15 | |
3 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ140 | >Φ120 | 2.5P | >15 | |
4 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ160 | >Φ140 | 2.5P | >15 | |
5 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ180 | >Φ160 | 2.5P | >15 | |
6 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ200 | >Φ180 | 2.5P | >15 | |
7 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ220 | >Φ200 | 2.5P | >15 | |
8 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ240 | >Φ220 | 2.5P | 瓷套探伤专用 | |
9 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ260 | >Φ240 | 2.5P | 瓷套探伤专用 | |
10 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ280 | >Φ260 | 2.5P | 瓷套探伤专用 | |
11 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ300 | >Φ280 | 2.5P | 瓷套探伤专用 | |
12 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ400 | >Φ300 | 2.5P | 瓷套探伤专用 | |
13 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ500 | >Φ400 | 2.5P | 瓷套探伤专用 | |
14 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | Φ600 | >Φ400 | 2.5P | 瓷套探伤专用 | |
15 | 爬波探头 | 10 ×12×2 | 平面 | >Φ500 | 2.5P | 瓷套探伤专用 | |
16 | JYZ-2爬波探头 | 8 ×10×2 | Φ100 | <Φ100 | 2.5P | >12 | |
17 | 爬波探头 | 8 ×10×2 | Φ120 | >Φ100 | 2.5P | >12 | |
18 | 爬波探头 | 8 ×10×2 | Φ140 | >Φ120 | 2.5P | >12 | |
19 | 爬波探头 | 8 ×10×2 | Φ160 | >Φ140 | 2.5P | >12 | |
19 | 爬波探头 | 8 ×10×2 | Φ180 | >Φ160 | 2.5P | >12 | |
20 | 爬波探头 | 8 ×10×2 | Φ200 | >Φ180 | 2.5P | >12 | |
21 | 爬波探头 | 8 ×10×2 | Φ220 | >Φ200 | 2.5P | >12 | |
22 | 爬波探头 | 8 ×10×2 | 平 面 | >Φ220 | 2.5P | >12 | |
23 | JYZ-3爬波探头 | 6 ×10×2 | Φ100 | <Φ100 | 2.5P | >12 | |
24 | 爬波探头 | 6 ×10×2 | Φ120 | >Φ100 | 2.5P | >12 | |
25 | 爬波探头 | 6 ×10×2 | Φ140 | >Φ120 | 2.5P | >12 | |
26 | 爬波探头 | 6 ×10×2 | Φ160 | >Φ140 | 2.5P | >12 | |
27 | 爬波探头 | 6 ×10×2 | Φ180 | >Φ160 | 2.5P | >12 | |
28 | 爬波探头 | 6 ×10×2 | Φ200 | >Φ180 | 2.5P | >12 | |
29 | 爬波探头 | 6 ×10×2 | Φ220 | >Φ200 | 2.5P | >12 | |
30 | 爬波探头 | 6 ×10×2 | 平 面 | >Φ220 | 2.5P | >12 | |
31 | 小角度纵波探头 | 8 ×10 | Φ120 6° | >Φ100 | 5P | >12内部缺陷专用 | |
32 | 小角度纵波探头 | 8 ×10 | Φ140 6° | >Φ120 | 5P | >12内部缺陷专用 | |
33 | 小角度纵波探头 | 8 ×10 | Φ160 6° | >Φ140 | 5P | >12内部缺陷专用 | |
34 | 小角度纵波探头 | 8 ×10 | Φ180 6° | >Φ160 | 5P | >12内部缺陷专用 | |
35 | 小角度纵波探头 | 8 ×10 | Φ200 6° | >Φ180 | 5P | >12内部缺陷专用 | |
36 | 小角度纵波探头 | 8 ×10 | 平 面6° | >Φ200 | 5P | >12内部缺陷专用 | |
37 | 小角度纵波探头 | 8 ×10 | Φ180 8° | >100 | 5P | >12内部缺陷专用 | |
38 | 小角度纵波探头 | 8 ×10 | 平 面8° | >Φ200 | 5P | >12内部缺陷专用 | |
39 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ160 | >Φ140 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
40 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ180 | >Φ160 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
41 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ200 | >Φ180 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
42 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ220 | >Φ200 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
43 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ240 | >Φ220 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
44 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ260 | >Φ240 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
45 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ280 | >Φ260 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
46 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ300 | >Φ280 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
47 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ400 | >Φ300 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
48 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ500 | >Φ400 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
49 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | Φ600 | >Φ500 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
50 | 双晶横波探头 | 8 ×10×2 | 平 面 | >600 | 5P | 瓷套探伤专用 | |
51 | 纵波直探头 | Φ10 | 平 面 | 5P | 声速测定用 | ||
序号 | 试块名称 | 型 号 | 规 格 | 使用范围 | |||
1 | 校准试块 | JYZ-BXⅠ | 360°旋转/带支架 | 支柱绝缘子专用 | |||
2 | 校准试块 | JYZ-BXⅡ | 瓷套专用 | ||||
3 | 瓷柱对比试块 | JYZ-G | Φ120瓷柱声速≥6300m/s | 参考对比 | |||
1 | 瓷支柱绝缘子参考试块 | ≤Φ100-Φ110 | 块 | 外壁模拟裂纹 | |||
2 | 瓷支柱绝缘子参考试块 | >Φ110-Φ120 | 块 | 外壁模拟裂纹 | |||
3 | 瓷支柱绝缘子参考试块 | >Φ120-Φ130 | 块 | 外壁模拟裂纹 | |||
4 | 瓷支柱绝缘子参考试块 | >Φ130-Φ140 | 块 | 外壁模拟裂纹 | |||
5 | 瓷支柱绝缘子参考试块 | >Φ140-Φ150 | 块 | 外壁模拟裂纹 | |||
6 | 瓷支柱绝缘子参考试块 | >Φ150-Φ160 | 块 | 外壁模拟裂纹 | |||
7 | 瓷支柱绝缘子参考试块 | >Φ160-Φ170 | 块 | 外壁模拟裂纹 | |||
8 | 瓷支柱绝缘子参考试块 | >Φ140-Φ160 | 块 | 内部缺陷 | |||
1 | 瓷套参考试块 | >Φ160-Φ200 | 块 | 内外壁模拟裂纹 | |||
2 | 瓷套参考试块 | >Φ200-Φ300 | 块 | 内外壁模拟裂纹 | |||
3 | 瓷套参考试块 | >Φ300-Φ400 | 块 | 内外壁模拟裂纹 | |||
4 | 瓷套参考试块 | >Φ400-Φ500 | 块 | 内外壁模拟裂纹 | |||
5 | 瓷套参考试块 | >Φ500-Φ600 | 块 | 内外壁模拟裂纹 | |||
1 | 探头连接线 | Q9-C6、C9-C6、C5-C6 | 根 | 或根据仪器选配 |
IP65防护等级,全防水、防油、防尘设计
一、产品概述
FUT880瓷套、支柱绝缘子超声波探伤仪是飞泰公司专注多年精心研制的产品,该产品设计独特、制造精良、操作便捷、功能强劲,集诸多优势于一身,自问世以来一直倍受用户亲睐,它能够快速便捷、无损伤、准确地进行支柱绝缘子,瓷套内部多种缺陷(裂纹、夹杂、气孔等)的检测、定位、评估和诊断。采用全数字TFT 640×480真彩色液晶显示屏,可根据环境选择操作界面风格,液晶亮度可调节,界面设计人性化、波形显示细腻;可全屏清晰发现缺陷;单手可把持操作,曲线制作、探头校准等常规操作均可自动完成;核心处理器CPU主频400M,能快速完成复杂运算,实现智能缺陷分析;低功耗设计配备大容量高性能锂离子电池模块可连续工作10小时以上;支持多语言版本。防水、防油、防尘可达到IP65防护等级。
二、执行标准
DL/T303-2014《电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套 超声波检测》
GB/T2900.8 电工术语 绝缘子
GB/T12604.1 无损检测术语 超声检测 J
B/T9214 A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法。
JB/T10061 A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件
JB/T10062 超声探伤用探头性能测试方法
JB/T 10063 超声探伤用1号标准试块 技术条件
DL/T 675 电力工业无损检测人员资格考核规则
三、绝缘子超声波探伤仪探头的弧面选择
探头移动时要求保持与检测面的良好吻合,应选用与试件曲面相匹配的探头。一般可在支柱瓷绝缘 子及瓷套直径变化 20mm 范围内选用一种规格弧度的探头,但仅允许曲率半径大的探头探测曲面半径小 一档的试件(一档为 20mm)。探头的弧面直径分为:Φ100mm、Φ120mm、Φ140mm、Φ160mm、Φ180mm、 Φ200mm、Φ220mm、Φ240mm、Φ260mm、Φ280mm、Φ300mm、Φ400mm、Φ500mm、Φ600mm 以及平面 15 种规格。
四、FUT880瓷套、支柱绝缘子超声波探伤仪数据处理软件DataPro
该软件是绝缘子超声波探伤仪的通讯软件,软件运行在MS Windows系统下,可以通过USB通讯接口与仪器连接,读取仪器内存储的波形和参数,并给出直观的显示图形;可以将波形和数据存入数据库,并可随时调出或删除数据库中的保存的测量数据;可以将数据输出与计算机相连的打印机。软件的主界面如右图所示:
五、技术参数
◆技术参数优势
检测范围:0~20000mm
工作频率:0.2~20MHz(可根据探头频率全自动匹配,无需手动设置)
声速范围:300~15000m/s
动态范围:≥36dB
垂直线性误差:≤2.5%
水平线性误差:≤0.1%
分 辨 力:>40dB(5P14)
灵敏度余量:>65dB(深200mmФ2平底孔)
数字抑制:0~80%,不影响线性与增益
电噪声电平:≤8%
探头类型:直探头、斜探头、双晶探头、穿透探头
闸 门:进波门、失波门;单闸门、双闸门读数;峰值触发、边沿触发。
报 警:蜂鸣报警,LED灯报警
电 源:直流(DC)9V
待机时间:>10小时
外型尺寸:285mm×225mm×72mm
环境温度:-10~50℃
相对湿度:20~95%RH
注:以上指标是在探头频率为2.5MHz、检波方式为全波的情况下所测得。
支柱绝缘子超声波JYZ-BXI校准试块 JYZ-2爬波探头JYZ-1 电力瓷套、瓷支柱绝缘子参考试块 对比试块JYZ-G 爬波探头JYZ-3
人员
超声波检验人员须经过本导则附录A所列检验工艺的培训并经考核合格后方可执行检验工作和检验报告的签发。
超声波检验人员须熟悉并掌握本导则的各项规定,并按规定的检验工艺进行操作。
安全及工作环境
超声波检验工作须遵守《国家电网公司电力安全工作规程(变电站和发电厂电气部分)》的有关规定,当现场工作环境不具备检验条件时,检验人员应停止工作,待环境条件符合要求后再行工作。
数字式A型脉冲反射式超声波探伤仪器的要求
仪器的性能指标应符合JB/T 10061的规定。
仪器的性能测试方法应符合JB/T 9214的规定,测试周期为1年。
仪器的工作频率范围至少为1~6 MHz。
仪器的实时实采样频率不小于100 MHz。
仪器可记录波形应≥500幅。
仪器显示刷新率应≥60HZ。
仪器可测声速范围:100~15000m/s。
仪器须配有标准的通信接口,可通过界面程序与计算机进行数据和波型交换,也可直接与打印机相连。
仪器所配对比试块应符合本导则附录B所列技术条件要求。
数字式A型脉冲反射式超声波探伤仪所配用探头的要求
探头应按JB/T 10062的规定进行测试,测试周期为1年。
探头对准对比试块上被测棱边,当反射波幅*大时,探头中心线与被测棱边的夹角应在90º±2º的范围内。
探头主波束在垂直方向不应有明显的双峰或多峰。
探头的中心频率允许偏差为±0.5MHz。
纵波直探头*大穿透能力: 400mm。
纵波斜探头缺陷*大检出能力:可检出被测瓷支柱绝缘子及瓷套内部深度≤250mm内的Φ1mm孔。
爬波探头缺陷*大检出能力:距瓷支柱绝缘子及瓷套裂纹40mm时,能检出深1mm的裂纹
支柱绝缘子超声波JYZ-BXI校准试块 JYZ-2爬波探头JYZ-1
检验方法
声速测定
对不同批次、不同尺寸的瓷支柱绝缘子,需按不少于1%的比例抽检作声速测定,以确定其强度范围。
瓷支柱绝缘子的声速测定应采用纵波直探头,采用卡尺量出被测瓷支柱绝缘子的直径并输入仪器,调整仪器找到两次回波,并将回波限在闸门范围内,测试出被测瓷件声速值。一般高强瓷的声速>6500m/s,(6370-65000m/s)。
瓷套的声速测定暂不作要求。
内部缺陷检测
内部缺陷(指瓷件内部存在的点状、多个或从状、裂纹等缺陷)应采用纵波斜入射方法进行检测。
选择探头:在探头移动范围允许的情况下,尽量选择入射角较大的探头,以提高表面缺陷检出能力。一般可在直径变化20mm的范围内确定一种弧度规格探头,直径大的探头可用于探测直径小一档的瓷件。瓷支柱绝缘子及瓷套直径大于Φ240mm时可以采用平面探头。
调整显示比例:以JYZ-BX试块上与瓷支柱绝缘子直径及瓷套壁厚相近处的Φ1mm横通孔作为参照,调整波形显示比例(一般仪器A通道预置显示比例适用于直径200mm的瓷件。比如瓷支柱绝缘子直径为140 mm,屏幕上底波的横向显示距离应为距始波70%屏幕宽度)。
调整灵敏度:以JYZ-BX试块上深40mm,Φ1mm横通孔为参照,采用按自动增益键或手动调整增益的方式,使该横通孔的*强反射波高为屏幕纵向显示刻度的80%(即80%波高)支柱绝缘子超声波JYZ-BXI校准试块 JYZ-2爬波探头JYZ-1 电力瓷套、瓷支柱绝缘子参考试块 对比试块JYZ-G 爬波探头JYZ-3